O próximo mes de setembro terá lugar a formación: Fundamentos e aplicacións da microscopía electrónica de varrido (SEM) e FIB (Focused Ion Beam) en CINTECX,  de 12h de duración – 8 h de formación básica teórica + 4 h de aplicacións e equipos. As inscricións abrirán a principios de setembro, pero desde CINTECX aconsellan reservar...Read More