Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam)
Cintecx Campus Universitario Lagoas-Marcosende, VigoEl próximo mes de septiembre tendrá lugar la formación: Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam) en CINTECX, de 12h de duración - 8 h de formación básica teórica + 4 h de aplicaciones y equipos. Las inscripciones abrirán a principios de septiembre, pero desde CINTECX aconsejan […]
